[发明专利]一种用于星载微波辐射计的在轨辐射校正方法在审
| 申请号： | 201911006183.7 | 申请日： | 2019-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN110716185A | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 陆其峰;商建;武胜利;郭杨;安大伟;尹红刚;窦芳丽;吴琼;游然;李小青;孙逢林;陈洁;刘成保;屈兴之;张立军;卢乃锰;谷松岩;杨忠东;戎志国;张鹏 | 申请（专利权）人： | 国家卫星气象中心 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 11381 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈曦;刘娟 |
| 地址： | 100081 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于星载微波辐射计的在轨辐射校正方法，包括如下步骤：⑴筛选甄别星载微波辐射计的辐射校正试验场地；⑵确定开展外场试验的时间；⑶设计星载微波辐射计的外场试验同步观测内容与方案；⑷开展星地同步观测；⑸搜集和存储观测数据；⑹进行辐射校正数据处理与分析。利用本发明，对于受地表发射率影响显著的大像元尺度的星载微波辐射计，可以准确计算波束足迹内不同类型下垫面在不同探测通道的微波发射率，获得准确的正演亮温结果，实现星载微波辐射计的在轨高精度辐射定标。 | ||
| 搜索关键词： | 星载微波辐射计 同步观测 外场试验 发射率 辐射 校正 数据处理与分析 波束 辐射定标 观测数据 探测通道 像元尺度 校正试验 下垫面 轨高 亮温 微波 地表 存储 搜集 筛选 足迹 | ||
【主权项】：
1.一种用于星载微波辐射计的在轨辐射校正方法，其特征在于包括如下步骤：/n⑴筛选甄别星载微波辐射计的辐射校正试验场地；/n⑵确定开展外场试验的时间；/n⑶设计星载微波辐射计的外场试验同步观测内容与方案；/n⑷开展星地同步观测；/n⑸搜集和存储观测数据；/n⑹进行辐射校正数据处理与分析。/n
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