[发明专利]光学量测系统和量测从微型组件所发出的光的方法在审
| 申请号： | 201911006914.8 | 申请日： | 2019-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN112212972A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 陈立宜 | 申请（专利权）人： | 美科米尚技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张琳 |
| 地址： | 萨摩亚阿庇亚*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种光学量测系统，包含光纤和光侦测部件。光纤具有第一端、第二端和内腔，第二端在第一端的对侧，内腔从第一端凹入并用以容置微型组件。光侦测部件连接至光纤的第二端，用以接收从光纤的第一端所传来的光。本发明所提出的改进的光学量测系统和一种量测从微型组件所发出的光的方法可相对于传统光纤增加信号噪声比。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 系统 微型 组件 发出 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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