[发明专利]一种基于电离室和半导体探测器的氡测量装置有效

专利信息
申请号: 201911008111.6 申请日: 2019-10-22
公开(公告)号: CN110954935B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 江灏;闫洋洋;祝娇;王东芹;孙祁;沈明明;徐卫锋 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七一九研究所
主分类号: G01T1/185 分类号: G01T1/185;G01T1/24;G01T1/36
代理公司: 武汉天力专利事务所 42208 代理人: 吴晓颖
地址: 430205 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及核辐射探测技术领域,提供一种基于电离室和半导体探测器的氡测量装置,包括流气式电离室和半导体探测器,所述电离室外壁接正高压,所述半导体探测器位于电离室端面的中心,半导体探测器接地为低电平,形成了一个电场。α粒子在电离室中电离产生电子‑离子对,在电场作用下漂移至电离室收集极并形成信号。其中,电离室的收集极可以有多种不同的形式。同时,222Rn和220Rn的带正电子体218Po、216Po等也可以在电场作用下,漂移至半导体探测器表面,通过半导体探测器测量氡子体能谱。本发明氡测量装置,既具有较高的探测器效率和探测器灵敏度,又具有氡子体的区分能力,并能减少氡的长寿命子体带来的本底贡献。
搜索关键词: 一种 基于 电离室 半导体 探测器 测量 装置
【主权项】:
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