[发明专利]一种高质量κ相氧化镓外延薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201911009760.8 申请日: 2019-10-23
公开(公告)号: CN110616456B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 叶建东;龚义清;郝景刚;陈选虎;任芳芳;顾书林 申请(专利权)人: 南京大学;南京大学深圳研究院
主分类号: C30B25/02 分类号: C30B25/02;C30B25/18;C30B25/16;C30B29/16
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈建和
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种采用卤化物气相外延生长κ‑Ga2O3薄膜的方法,使用两温区管式炉作为反应设备,高纯金属Ga和混合载气的HCl在第一温区反应区加热下发生反应,生成气态的GaCl和GaCl3,之后在载气的推动下,第一温区反应区反应生成物进入第二温区生长区与混合载气的O2反应,在衬底上生长κ‑Ga2O3薄膜;第一温区反应区采用较高温度使得金属Ga源和气态HCl反应,第一温区使用的温度在800℃至1050℃,而第二温区生长区采用较低温度使第一温区输送过来的生成物与O2反应,第二温区使用的温度在500℃至650℃。本发明方法的生长速度较快,成本低、所需反应物毒性低,可大规模制备κ‑Ga2O3薄膜。
搜索关键词: 一种 质量 氧化 外延 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1.一种采用卤化物气相外延生长κ-Ga
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