[发明专利]一种六方氮化硼薄膜制备时的带隙调控方法有效

专利信息
申请号: 201911010999.7 申请日: 2019-10-22
公开(公告)号: CN110670017B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 叶思远;李宇波;华飞;邝昊泽;汪小知;杨杭生 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06;C23C14/35;C23C14/54
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种六方氮化硼薄膜制备时的带隙调控方法。在制备六方氮化硼薄膜过程中,通过控制六方氮化硼薄膜局域模态控制六方氮化硼薄膜带隙,局域模态包括局域c轴朝向、局域c面面积和局域c向层数,通过增大局域c轴与衬底平面夹角减小薄膜带隙,或者通过减小局域c面面积减小薄膜带隙,或者通过增加局域c向层数减小薄膜带隙。本发明方法实现了对六方氮化硼薄膜制备时进行带隙调控,以无毒无害的靶材和气体为原料,成本较低,设备简单。制备的六方氮化硼薄膜可用于紫外光传感、紫外发光、水体净化等领域。
搜索关键词: 一种 氮化 薄膜 制备 调控 方法
【主权项】:
1.一种六方氮化硼薄膜制备时的带隙调控方法,其特征在于:/n在制备六方氮化硼薄膜过程中,通过控制六方氮化硼薄膜局域模态控制六方氮化硼薄膜带隙,局域模态包括局域c轴朝向、局域c面面积和局域c向层数,通过增大局域c轴与衬底平面夹角减小薄膜带隙,或者通过减小局域c面面积减小薄膜带隙,或者通过增加局域c向层数减小薄膜带隙。/n
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