[发明专利]红外探测器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201911012637.1 申请日: 2019-10-23
公开(公告)号: CN112701171B 公开(公告)日: 2022-08-19
发明(设计)人: 赵宇;吴启花;李欣;黄勇 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/101;H01L31/18
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了红外探测器及其制作方法,所述红外探测器包括衬底、P型超晶格接触层、P型超晶格吸收层、空穴势垒层、N型超晶格接触层、第一电极以及第二电极,所述P型超晶格接触层、P型超晶格吸收层、空穴势垒层以及N型超晶格接触层从下而上叠层设置在衬底上,所述第一电极设置在P型超晶格接触层上,所述第二电极设置在N型超晶格接触层上。其中,所述空穴势垒层为InAs/InPSb超晶格。由此,本发明凭借InAs/InPSb超晶格势垒层完美实现了以无Al结构对空穴的阻挡,有效抑制暗电流的同时,降低了材料生长和加工的难度、提升了器件的稳定性和可靠性。而且,InAs/InPSb超晶格可作为短波、中波和长波红外探测器的空穴势垒层,适用于各类波长的红外探测器,泛用性较强。
搜索关键词: 红外探测器 及其 制作方法
【主权项】:
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