[发明专利]红外探测器及其制作方法有效
申请号: | 201911012637.1 | 申请日: | 2019-10-23 |
公开(公告)号: | CN112701171B | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 赵宇;吴启花;李欣;黄勇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/101;H01L31/18 |
代理公司: | 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 | 代理人: | 孙伟峰 |
地址: | 215123 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了红外探测器及其制作方法,所述红外探测器包括衬底、P型超晶格接触层、P型超晶格吸收层、空穴势垒层、N型超晶格接触层、第一电极以及第二电极,所述P型超晶格接触层、P型超晶格吸收层、空穴势垒层以及N型超晶格接触层从下而上叠层设置在衬底上,所述第一电极设置在P型超晶格接触层上,所述第二电极设置在N型超晶格接触层上。其中,所述空穴势垒层为InAs/InPSb超晶格。由此,本发明凭借InAs/InPSb超晶格势垒层完美实现了以无Al结构对空穴的阻挡,有效抑制暗电流的同时,降低了材料生长和加工的难度、提升了器件的稳定性和可靠性。而且,InAs/InPSb超晶格可作为短波、中波和长波红外探测器的空穴势垒层,适用于各类波长的红外探测器,泛用性较强。 | ||
搜索关键词: | 红外探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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