[发明专利]一种超导-拓扑半金属复合式磁探测器有效

专利信息
申请号: 201911014719.X 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN110726960B 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 伍岳;肖立业 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: G01R33/09 分类号: G01R33/09;G01R33/035
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种超导‑拓扑半金属复合式磁探测器,涉及一种超导磁探测器,包括超导层(1)及拓扑半金属层(2)。所述的超导层(1)为闭合超导环路结构,超导环路中的一段区域采用电流压缩区域。拓扑半金属层为锯齿形条状结构。拓扑半金属层(2)位于超导层(1)闭合环路中电流压缩区域内侧,且拓扑半金属层(2)与超导层(1)中电流压缩区域之间的间距小于超导层(1)中电流压缩区域的宽度。
搜索关键词: 一种 超导 拓扑 金属 复合 探测器
【主权项】:
1.一种超导-拓扑半金属复合式磁探测器,其特征在于:所述的超导-拓扑半金属复合式磁探测器包括超导层(1)和拓扑半金属层(2);超导层(1)为闭合超导环路结构,超导环路中有一段电流压缩区域,所述的电流压缩区域的环路宽度小于超导环路其余部分的环路宽度,为一狭窄区域;拓扑半金属层(2)为锯齿形条状结构;拓扑半金属层(2)位于超导层(1)中电流压缩区域内侧,拓扑半金属层(2)与超导层(1)中电流压缩区域之间的间距小于超导层(1)中电流压缩区域的宽度,拓扑半金属层(2)的长度小于超导层(1)中电流压缩区域的长度。/n
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