[发明专利]微波器件测试系统和微波器件测试方法在审
| 申请号： | 201911015025.8 | 申请日： | 2019-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN110988512A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 王铁羊;宋芳芳;黄云;路国光;恩云飞;王磊;邵伟恒 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R23/16 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 宋永慧 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及微波器件测试技术领域，公开了一种微波器件测试系统和微波器件测试方法。包括信号源模块，与所述微波器件连接，用于向所述微波器件提供适用于谐波测试的激励信号以激励所述微波器件输出测试信号；测试模块，用于对所述微波器件输出的测试信号进行分析并获取测试结果；转换模块，分别与所述微波器件和所述测试模块连接，所述转换模块与所述微波器件的输出端口相匹配，用于对所述微波器件和测试模块进行转接。所述以波导为输出接口的微波器件通过转换模块将基波与谐波直接传输至测试模块，保证了所述基波与谐波在测试系统中的有效提取与传输，实现对以波导为输出接口的微波器件进行谐波测试，并获得准确稳定的高次谐波分量测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 器件 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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