[发明专利]一种高纯锗探测器和高纯锗探测器测试系统在审

专利信息
申请号: 201911017708.7 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN110727018A 公开(公告)日: 2020-01-24
发明(设计)人: 田阳;李玉兰;唐维优;邓智;岳骞 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 李丹;栗若木
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种高纯锗探测器和高纯锗探测器测试系统,本申请的基于ASIC前置放大器的高纯锗探测器,通过低温液体裸浸直接制冷的运行方式,在保证能量分辨率的同时有效地降低了探测器自身本底;本申请的高纯锗探测器测试系统,通过手套箱创造出的低水氧含量测试环境,实现了基于ASIC前置放大器的高纯锗探测器的低温液体裸浸直接制冷的运行方式,并可重复操作。
搜索关键词: 高纯锗探测器 前置放大器 测试系统 低温液体 运行方式 制冷 申请 能量分辨率 含量测试 可重复 手套箱 有效地 探测器 低水 保证
【主权项】:
1.一种高纯锗探测器,包括:/n基于专用集成电路ASIC的前置放大器。/n
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