[发明专利]X光片分析结果的评估方法、设备和存储介质在审
| 申请号： | 201911021798.7 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN110807310A | 公开（公告）日： | 2020-02-18 |
| 发明（设计）人： | 何志强;郑介志 | 申请（专利权）人： | 上海联影智能医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F40/205 | 分类号： | G06F40/205;G06F40/211;G06F40/289;G06F40/30;G06F40/194;G16H15/00 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 朱五云 |
| 地址： | 200232 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X光片分析结果的评估方法、设备和存储介质，该方法包括：获取第一用户对X光片处理所得的第一诊断报告；获取第二用户对X光片处理所得的第二诊断报告；利用预设的语义分析方法，对第一诊断报告进行语义分析得到第一结构化分析结果，对第二诊断报告进行语义分析得到第二结构化分析结果；将第一结构化分析结果与第二结构化分析结果进行比对，得到比对结果；根据比对结果，对第一诊断报告进行评估，得到对第一诊断报告的评估结果，该方法能够更加准确地对第一诊断报告和第二诊断报告进行语义分析，提高了得到的第一结构化分析结果和第二结构化分析结果的准确度，进而提高了得到的对第一诊断报告的评估结果的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 结果 评估 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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