[发明专利]一种基于忆阻器阵列的紫外光辐射累积测量电路有效

专利信息
申请号: 201911022687.8 申请日: 2019-10-25
公开(公告)号: CN111221023B 公开(公告)日: 2022-11-29
发明(设计)人: 文常保;高南;刘维宇;全思;茹锋;李演明;王飚;巨永锋 申请(专利权)人: 长安大学
主分类号: G01T1/17 分类号: G01T1/17
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 王芳
地址: 710064 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于忆阻器阵列的紫外光辐射累积测量电路,包括紫外光接收模块、忆阻器放大模块、测量开关、忆阻器阵列模块、忆阻器复位模块和忆阻器误差调理模块;紫外光接收模块连接忆阻器放大模块的输入端,忆阻器放大模块连接测量开关,开关另一端连接忆阻器阵列模块和忆阻器组织复位模块,忆阻器阵列模块与忆阻器复位模块的输出端连接,再与忆阻器误差调理模块的输入端连接;紫外光接收模块包括偏置电压、保护电阻、雪崩二极管和紫外偏振片;偏置电压的输出端连接保护电阻,保护电阻的另一端连接雪崩二极管。本发明利用忆阻器的阻值变化来测量紫外辐射的累积量,从而提高了累积测量准确度,解决了传统测量电路损耗过高的问题。
搜索关键词: 一种 基于 忆阻器 阵列 紫外 光辐射 累积 测量 电路
【主权项】:
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