[发明专利]一种应力测量方法及应力测量光路装置在审
| 申请号： | 201911023263.3 | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN110954253A | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 何军 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24 |
| 代理公司： | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人： | 孔令环 |
| 地址： | 510641 广东省广州市天河区五山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应力测量方法，包括以下步骤：(1)设置由单一光弹材料制成的试样主体及其镀层结构；(2)对应力测量光路装置进行布置；(3)启动光源；通过设置的布置光路，使散斑涂层经多次折射后与反射光弹图纹同轴入射图像采集单元；(4)启动图像采集设备，获取试样两侧同一瞬时的散斑图像和光弹图像；(5)联合求解光弹实验和数字图像相关实验结果，得到图像任意像素点的应力分量。本发明还公开了实施该方法的应力测量光路装置。本发明通过在试样两侧同时进行光弹方法和数字图像相关方法获取试样全场的应力差和应变值，其可以用于载荷不对称的试样，使测量的适用性大大增强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应力 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
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