[发明专利]用于确定颗粒污染的系统和方法在审
| 申请号： | 201911024698.X | 申请日： | 2019-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN111103219A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 斯特凡·魏斯;亚历山大·赫尔曼;罗伯特·沃尔夫;亚历山大·范德李;沃尔弗拉姆·约翰内斯·马丁·莱达;鲍拉日·亚陶科斯;罗伯特·魏斯;泽伦·索夫克;汉斯·斯普鲁伊特;延斯-阿尔里克·阿德里安;马蒂亚斯·法尔克;多米尼克·莫泽 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司;特鲁普光子元件有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 曾贤伟;许静 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于确定颗粒污染的系统和方法，一种用于确定测量环境中的颗粒污染的方法，其中，检测测量环境中的各个颗粒(S1)；其中，确定测量环境中的每体积的颗粒数量的至少一个估计(S2)；其中，将每体积的颗粒数量的至少一个估计和描述测量环境中的至少一个颗粒源的表征信息作为用于确定测量环境中的颗粒污染的输出值的基础(S3)；并且其中，使得情境相关数据能够使用，并且基于能够使用的情境相关数据来估计表征信息(S4)。基于能够使用的情境相关数据对于表征信息的估计被用于避开能够评估的表征信息到固定指定的信息的常规限制，并且替代地使得针对情境相关数据灵活地调整待评估的表征信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 颗粒 污染 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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