[发明专利]一种同时测量二元系热扩散率和互扩散系数的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911024938.6 申请日: 2019-10-25
公开(公告)号: CN110672559B 公开(公告)日: 2021-01-19
发明(设计)人: 张颖;何茂刚;陈俊帅;占涛涛;刘向阳 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N21/51 分类号: G01N21/51;G01N21/01
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 王艾华
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种同时测量二元系热扩散率和互扩散系数的装置及方法,该装置通过偏振光路将光束扩展成直径较大的均匀平行光束,进入实验本体后可以实现全域扫描测量,通过检测分析单元即可获取透射光与散射光干涉叠加的图像,其中包含各个散射体积下对应的散射光信息。本发明提供的同时测量二元流体混合物热扩散率和互扩散系数的方法,通过图像作差分析可以得到与时间相关的散射光强度信息,本发明即可同时计算获得热扩散率和互扩散系数数据。本发明除了可以实现热扩散率和互扩散系数全域测量以及同时测量外,无需机械控制角度,即可实现大量独立散射矢量下散射光信号的同时采集,显著提高了测量精度。
搜索关键词: 一种 同时 测量 二元 扩散 扩散系数 装置 方法
【主权项】:
1.一种同时测量二元系热扩散率和互扩散系数的装置,包括偏振光路、实验单元和检测分析单元,其中,实验单元具有透光的实验本体(7)和温度压力测控系统,实验本体(7)内能填充待测量流体;温度压力测控系统用于控制和测量待测量流体的温度和压力;偏振光路产生偏振光进入实验本体,透射待测量流体,诱导产生散射光,散射光与透射光形成干涉叠加图像被检测分析单元检测、采集和分析。/n
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