[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 201911029260.0 | 申请日: | 2019-10-28 |
公开(公告)号: | CN111129019A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
发明(设计)人: | 麦特西亚斯·帕斯拉克;布莱戴恩·杜瑞兹;乔治·凡利亚尼提斯;荷尔本·朵尔伯斯;马库斯·琼斯·亨利库斯·范达尔;马汀·克里斯多福·荷兰;马礼修 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11517 | 分类号: | H01L27/11517;H01L27/11568 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种半导体装置,包括介电层、在介电层上方的晶体氧化镁层、在晶体氧化镁层上方的晶体半导体通道层、至少部分重叠晶体半导体层的栅极结构以及与晶体半导体通道层相邻的源极/漏极区域。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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