[发明专利]一种单孔电阻率探测溶洞方法有效

专利信息
申请号: 201911031422.4 申请日: 2019-10-28
公开(公告)号: CN110673216B 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 梁森;卢杨益;熊跃鑫;易超 申请(专利权)人: 中建四局第一建设有限公司;中国建筑第四工程局有限公司
主分类号: G01V3/00 分类号: G01V3/00
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 52100 代理人: 刘楠;朱法恒
地址: 510030 广东省广州市花都*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种单孔电阻率探测溶洞方法,该方法包括以下步骤:1、安装探测装置:将各电极嵌固在PVC穿线管上,与电极相连的铜芯电缆从PVC穿线管中间穿过后连接地表的电阻率测试仪和电极;2、放置探测装置:将组装好的PVC穿线管放入超前钻孔中;/3、采集数据、计算视电阻率以及绘制坐标图,最后通过坐标图即可得出溶洞所在区域。本发明采用钻孔深入地下探测,具有探测平面范围大、探测深度大、获得有效数据多等特点,且可消除地层中的部分干扰。同时,使用基本电阻率计算理论来计算视电阻率,计算过程简单,有利于提高探测效率。
搜索关键词: 一种 单孔 电阻率 探测 溶洞 方法
【主权项】:
1.一种单孔电阻率探测溶洞方法,其特征在于包括以下步骤:/nS1,安装探测装置:将电极嵌固在PVC穿线管上,与电极相连的铜芯电缆从PVC穿线管中间穿过后连接地表的电阻率测量仪器;/nS2,放置探测装置:将组装好的PVC穿线管放入超前钻孔中;/nS3,采集数据:通过电阻率测量仪器采用三种不同的跑级方式记录所测得的电势值和电流值;/nS4,分别计算三种跑级方式的视电阻率:使用基本电阻率计算理论:
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