[发明专利]一体化机芯的零点位置聚焦方法、系统及电子设备有效
申请号: | 201911032190.4 | 申请日: | 2019-10-28 |
公开(公告)号: | CN110515398B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 黄仝宇;胡斌杰 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G05D3/20 | 分类号: | G05D3/20 |
代理公司: | 广州国鹏知识产权代理事务所(普通合伙) 44511 | 代理人: | 宁尚国 |
地址: | 510641 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明提供了一种一体化机芯的零点位置聚焦方法、系统及电子设备,方法包括:S1、根据聚焦电机位置检测器发出的电平信号状态控制聚焦电机的运动位置;S2、根据聚焦电机的移动,实时采集三极管输出端的电压值,当 |
||
搜索关键词: | 一体化 机芯 零点 位置 聚焦 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种一体化机芯的零点位置聚焦方法,其特征在于,采用检测电路进行聚焦,所述检测电路包括发光二极管和三极管,所述方法包括以下步骤:/nS1、根据聚焦电机位置检测器发出的电平信号状态控制聚焦电机的运动位置,若所述电平信号为低电平,则驱动所述聚焦电机向近端方向移动,若所述电平信号为高电平,则驱动所述聚焦电机向远端方向移动;/nS2、根据所述聚焦电机的移动,实时采集三极管输出端的电压值,得到三个连续电压值 和 ,当 时,所述聚焦电机位置检测器进入发光二极管和三极管之间,进入步骤S3,否则继续采集电压值,并取平均值作为所述一体化机芯的低电平电压值 ;/nS3、继续采集所述三极管输出端的电压值,得到三个连续电压值 和 ,当 和 不满足 时,继续采集电压值,并取平均值作为所述一体化机芯的高电平电压值 ;/nS4、计算所述低电平电压值和所述高电平电压值的中间值 , ,所述中间值所对应的所述聚焦电机运动的当前步数为所述一体化机芯的镜头对焦零点位置。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911032190.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。