[发明专利]一种增强型异质金属栅AlGaN/GaN MOS-HEMT器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201911032794.9 申请日: 2019-10-28
公开(公告)号: CN110634946B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 李迈克 申请(专利权)人: 中证博芯(重庆)半导体有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/06;H01L29/417;H01L29/778;H01L21/28;H01L21/335
代理公司: 重庆中之信知识产权代理事务所(普通合伙) 50213 代理人: 霍维英
地址: 401520 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种增强型异质金属栅AlGaN/GaN MOS‑HEMT器件及其制备方法,包括:位于Al2O3衬底之上的AlN过渡层;位于所述AlN过渡层之上的多层缓冲结构;位于多层缓冲结构之上的AlGaN阻挡层;位于所述AlGaN阻挡层之上的GaN帽层;位于所述第一GaN层之上且向上穿过所述AlGaN阻挡层以及GaN帽层的源极和漏极;位于所述GaN帽层、源极和漏极之上的栅极氧化层;位于所述栅极氧化层之上的异质栅极结构。本发明能够提高沟道驱动电流,可对阈值电压进行灵活调整、能防止沟道载流子迁移率的恶化。
搜索关键词: 一种 增强 型异质 金属 algan gan mos hemt 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种增强型异质金属栅AlGaN/GaN MOS-HEMT器件,其特征在于,包括:/n位于Al
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