[发明专利]一种高精度结构光三维测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201911033365.3 申请日: 2019-10-28
公开(公告)号: CN110926369B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 张新;刘威;邵航;黄海亮 申请(专利权)人: 浙江未来技术研究院(嘉兴)
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京知呱呱知识产权代理有限公司 11577 代理人: 张伟洋
地址: 314000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明实施例公开了一种高精度结构光三维测量系统及方法,将两路波长分别为λ1和λ2的结构光合成为一束后投射至被测场景中,获取经被测场景调制的结构光图像,其并经分光分成两路光路后分别采集经被测场景调制的波长λ1和波长λ2的结构光图像,根据采集得到的经被测场景调制的波长λ1和波长λ2的结构光图像计算获得被测场景的三维信息。利用双波长结构光投射及采集,可实现单帧时间内的双帧投射,利用正弦结构光与随机编码结构光,实现具有更精准快速的相位解算,重建速度快、精度高,可用于动态场景的高精度三维测量。
搜索关键词: 一种 高精度 结构 三维 测量 系统 方法
【主权项】:
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