[发明专利]基于改进k-means算法的作物病变叶片检测方法有效

专利信息
申请号: 201911033512.7 申请日: 2019-10-28
公开(公告)号: CN110751228B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 刘哲;黄文准;郭建新 申请(专利权)人: 西京学院
主分类号: G06V10/762 分类号: G06V10/762;G06V20/10;G06T7/00;G06T7/11
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 王学芝
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于计算机信息处理、模式识别技术领域,公开了一种基于改进k‑means算法的作物病变叶片检测方法,首先根据病变叶片的直方图特性,确定病变叶片的类别数;然后通过直方图的峰值点初步确定聚类中心,并计算每个像素点到不同聚类中心的相似度;最后根据相似度的大小利用k‑means聚类算法进行病变叶片图像的分割,完成对病变叶片的快速检测。本发明不需要人工指定图像聚类的类别数,自动确定类别数;不需要人工指定初始聚类中心,自动确定初始聚类中心;计算像素点到聚类中心的相似度,不仅考虑颜色相似度,而且还考虑了距离大小,更能精确对图像进行分割。
搜索关键词: 基于 改进 means 算法 作物 病变 叶片 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于改进k-means算法的作物病变叶片检测方法,其特征在于,所述基于改进k-means算法的作物病变叶片检测方法首先根据病变叶片的直方图特性,确定病变叶片的类别数;然后通过直方图的峰值点初步确定聚类中心,并计算每个像素点到不同聚类中心的相似度;最后根据相似度的大小利用k-means聚类算法进行病变叶片图像的分割,完成对病变叶片的快速检测;/n所述k-means聚类算法为:/n1)确定好聚类数目和初始聚类中心;/n2)运用公式计算像素点到每个聚类中心的相似度;/ns=s
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