[发明专利]一种大口径光学复杂曲面的立式加工检测集成方法有效
| 申请号： | 201911036716.6 | 申请日： | 2019-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN110625629B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 王旭;李龙响;宋驰;薛栋林;张学军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | B25J11/00 | 分类号： | B25J11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供一种大口径光学复杂曲面的立式加工检测集成方法，具体过程为：固定大口径光学元件使其竖直放置，并在光学元件前方搭建检测系统和加工系统；检测系统位于光学元件的正前方，主要由CGH光学补偿器和干涉仪构成；加工系统位于光学元件与检测系统之间，主要由移动导轨、机械臂底座、机械臂及磁流变加工设备组成；在光学检测过程中，坐落在移动导轨之上的机械臂先移动到检测光路之外；待检测完成后，机械臂沿导轨缓慢移动到指定的加工工位，然后开启磁流变设备，进入加工工序；不断重复检测、加工过程，直至光学元件的面形达到设定精度。该方法能够大幅度提高大口径光学复杂曲面的加工检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 口径 光学 复杂 曲面 立式 加工 检测 集成 方法 | ||
【主权项】：
1.一种大口径光学复杂曲面的立式加工检测集成方法，其特征在于，具体过程为：/n步骤一，固定大口径光学元件使其竖直放置，并在光学元件前方搭建检测系统和加工系统；所述检测系统位于光学元件的正前方，主要由CGH光学补偿器和干涉仪构成；所述加工系统位于光学元件与检测系统之间，主要由移动导轨、机械臂底座、机械臂及磁流变加工设备组成，所述机械臂通过机械臂底座安装于移动导轨上，所述磁流变加工设备安装于机械臂的末端；/n步骤二，在光学检测过程中，坐落在移动导轨之上的机械臂先移动到检测光路之外；待检测完成后，机械臂沿导轨缓慢移动到指定的加工工位，然后开启磁流变设备，进入加工工序；/n步骤三，不断重复检测、加工过程，直至光学元件的面形达到设定精度。/n
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