[发明专利]基于太赫兹自由空间法的样品介电特性测试装置和方法有效
| 申请号： | 201911038960.6 | 申请日： | 2019-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN110703054B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 张献生 | 申请（专利权）人： | 山东省科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张庆骞 |
| 地址： | 250014 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种基于太赫兹自由空间法的样品介电特性测试装置和方法。其中，基于太赫兹自由空间法的样品介电特性测试装置，包括样品盒，所述样品盒用于盛放待测样品；所述样品盒两侧设置分别设置有第一天线和第二天线，所述样品盒与第一天线之间设置有第一透镜，所述样品盒与第二天线之间设置有第二透镜，所述第一天线与第一太赫兹源相连，所述第二天线与第二太赫兹源相连，所述第一太赫兹源和第二太赫兹源用于产生相同频率的太赫兹信号并分别经第一天线和第二天线相对发射，所述第一天线和第二天线还用于接收相应传输及反射太赫兹信号并传送至计算机；所述计算机用于获取空气、空样品盒和设置有待测样品的样品盒三种状态下的S参数矩阵，计算出待测样品本身的S参数，进而再利用NRW算法，反演计算得到待测样品的介电特性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 赫兹 自由空间 样品 特性 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于太赫兹自由空间法的样品介电特性测试装置，其特征在于，包括：/n样品盒，所述样品盒用于盛放待测样品；所述样品盒两侧设置分别设置有第一天线和第二天线，所述样品盒与第一天线之间设置有第一透镜，所述样品盒与第二天线之间设置有第二透镜，所述第一天线与第一太赫兹源相连，所述第二天线与第二太赫兹源相连，所述第一太赫兹源和第二太赫兹源用于产生相同频率的太赫兹信号并分别经第一天线和第二天线相对发射，所述第一天线和第二天线还用于接收相应传输及反射太赫兹信号并传送至计算机；所述计算机用于获取空气、空样品盒和设置有待测样品的样品盒三种状态下的S参数矩阵，计算出待测样品本身的S参数，进而再利用NRW算法，反演计算得到待测样品的介电特性。/n
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