[发明专利]一种硬X射线复合折射谱仪有效
| 申请号： | 201911042517.6 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN110727019B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 魏来;陈勇;杨祖华;张强强;范全平;王少义;巫殷忠;曹磊峰 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36;G21K1/06 |
| 代理公司： | 成都佳划信知识产权代理有限公司 51266 | 代理人： | 史姣姣 |
| 地址： | 621000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明公开了一种硬X射线复合折射谱仪，由沿X射线传输方向依次布设的硬X射线屏蔽块、复合折射透镜和硬X射线探测器组成；所述硬X射线屏蔽块的下底面与复合折射透镜的下底面齐平、且硬X射线屏蔽块的厚度为复合折射透镜的厚度的 |
||
| 搜索关键词： | 一种 射线 复合 折射 | ||
【主权项】：
1.一种硬X射线复合折射谱仪，其特征在于，由沿X射线传输方向依次布设的硬X射线屏蔽块(1)、复合折射透镜(2)和硬X射线探测器(3)组成；所述硬X射线屏蔽块(1)的下底面与复合折射透镜(2)的下底面齐平、且硬X射线屏蔽块(1)的厚度为复合折射透镜(2)的厚度的
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心，未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911042517.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
