[发明专利]一种基于线性回归与余数周期的样本周期精确估计方法有效
申请号: | 201911050388.5 | 申请日: | 2019-10-31 |
公开(公告)号: | CN110826213B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 吕文超;黄辰;史小伟;张蔚 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F17/18 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 管高峰 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于线性回归与余数周期的样本周期精确估计方法,包括以下步骤:1)对于给定的数据进行筛选,得到筛选后的样本X;2)根据样本X和初始周期t计算样本X的余数累计误差Δ以及周期数M,并进行线性修正;3)对样本X和修正后的余数累计误差Δ′进行线性拟合,判断两者线性关系,若满足线性关系,则执行下一步骤;4)对样本X与修正个数M'线性回归,得到最终的拟合序列和精测周期t |
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搜索关键词: | 一种 基于 线性 回归 余数 周期 样本 精确 估计 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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