[发明专利]一种基于线性回归与余数周期的样本周期精确估计方法有效

专利信息
申请号: 201911050388.5 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110826213B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 吕文超;黄辰;史小伟;张蔚 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F17/18
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 管高峰
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于线性回归与余数周期的样本周期精确估计方法,包括以下步骤:1)对于给定的数据进行筛选,得到筛选后的样本X;2)根据样本X和初始周期t计算样本X的余数累计误差Δ以及周期数M,并进行线性修正;3)对样本X和修正后的余数累计误差Δ′进行线性拟合,判断两者线性关系,若满足线性关系,则执行下一步骤;4)对样本X与修正个数M'线性回归,得到最终的拟合序列和精测周期tr。本发明利用余数的敏感度高于原始序列的特点,消除对序列周期数的估计误差,进而增加可利用的序列个数,做到长时间累积样本。基于余数的线性变化规律,使用线性回归拟合样本序列,提高对序列周期过程的估计性能。
搜索关键词: 一种 基于 线性 回归 余数 周期 样本 精确 估计 方法
【主权项】:
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