[发明专利]X射线源阴极检测方法、检测系统及X射线成像系统有效
| 申请号： | 201911050792.2 | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN110831310B | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 唐华平;李科;董超;秦占峰;张庆辉 | 申请（专利权）人： | 新鸿电子有限公司 |
| 主分类号： | H05G1/26 | 分类号： | H05G1/26;H05G1/54 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张启程 |
| 地址： | 213200 江苏省常州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种X射线源阴极检测方法、检测系统及其使用该检测系统的X射线成像系统，该方法包括以下步骤：检测X射线源阴极的工作状况并获得相应的工作参数；获得X射线源阴极的老化曲线数据，其中，所述老化曲线数据包括环境参数和/或阴极型号参数、批次参数；根据获得的工作参数和对应的老化曲线数据进行计算；以及根据计算的结果获得检测结果，所述检测结果包括阴极的剩余使用寿命和/或故障概率；根据所述计算结果，生成阴极使用列表，在发现高故障概率的情况下，调整阴极使用列表以从所述阴极使用列表中移除高故障概率的阴极。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 阴极 检测 方法 系统 成像 | ||
【主权项】：
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