[发明专利]一种测量点位投设固定支架及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201911053501.5 申请日: 2019-10-31
公开(公告)号: CN110823204A 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 张锦平;苏建峰 申请(专利权)人: 中冶天工集团有限公司
主分类号: G01C15/08 分类号: G01C15/08;G01C15/10
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 王同胜
地址: 300308 天津*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种测量点位投设固定支架,所述支架设置于需要定点的基坑或投点的基础上,包括:固定装置;测量装置,所述测量装置设置于所述固定装置上,包括一下刻度杆和一上刻度杆,所述上刻度杆的刻度与所述下刻度杆的刻度对应看齐;定位装置,包括一放线绳和一吊锤。本发明还提供一种上述投点固定支架的使用方法,首先定位测量轴线,定点定向完成后,照中所述上刻度尺上的刻度,放样各轴线方位角或水平角置零放样直线点,直到测量仪器上的十字竖丝与所述上刻度尺的刻度吻合后,用所述吊锤将轴线点垂直依次传递到所述下刻度尺直至所述基础上。本设施克服了测量仪器的转站次数,有效的避免了因多次测量转站,而产生的大量累计误差。
搜索关键词: 一种 测量 点位投设 固定 支架 及其 使用方法
【主权项】:
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