[发明专利]一种利用高光谱成像技术的无损检测方法在审
| 申请号： | 201911056524.1 | 申请日： | 2019-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN110766688A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 付乐伟 | 申请（专利权）人： | 武汉信正检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G01N21/25 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及无损检测技术领域，尤其涉及一种基于高光谱成像技术的无损检测方法。该方法利用高光谱成像系统，解决了单一波段范围内样品涵盖信息不全、模型预测稳定性差的问题，具有无损、实用性强、适合大规模检测的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 高光谱成像系统 无损检测技术 高光谱成像 模型预测 无损检测 波段 无损 涵盖 检测 | ||
【主权项】：
1.一种利用高光谱成像技术的无损检测方法，其特征在于包括如下步骤：/na样本准备，对样本进行预处理，剔除干扰信息，再进行进一步数据分析前将无用信息和有用信息区分开；/nb利用高光谱成像仪获取样本高光谱图像时，效剔除部分噪声干扰。调整好高光谱成像系统的相关参数后，首先获取标准全黑参考图像和标准全白(反射率在99％以上)参考图像，利用公式对采集的样本原始图像进行黑白校正；/nc调节高光谱分选仪的系统参数：电动移动平台的速度为0.28厘米/秒，相机的曝光时间为10ms，目标距离为15cm；/nd采集图像前，采集标准板图像，用于样本数据校正；/ne将样本平放在载物平台上，正对光谱相机，通过电动平台的移动，采集样本的整体信息。当电动平台归位后，利用步骤(3)获取的标准板图像对实验样本图像进行黑白校正，则一次样本数据采集结束；/nf对光谱进行多元散射校正，S-G卷积平滑算法首先选取一个大小为n的窗口，通过移动窗口未提取出每个窗口中的数据值，并计算平均值，从而计算出此光谱数据点的理想光谱值，从而减小误差，提高信口呆比。/n
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