[发明专利]一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法有效

专利信息
申请号: 201911059277.0 申请日: 2019-11-01
公开(公告)号: CN110780246B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 宋侃 申请(专利权)人: 武汉中科开物技术有限公司
主分类号: G01R33/3875 分类号: G01R33/3875;G01R33/36
代理公司: 湖北天领艾匹律师事务所 42252 代理人: 程明
地址: 430000 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提出了一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法,包括以下步骤:S1,测量探头射频线圈中心的射频场空间分布;S2,根据选择的匀场线圈组合设定一维梯度匀场的脉冲序列并调制序列参数;S3,测量并拟合匀场线圈的场图;S4,将射频场空间分布针对匀场线圈的场图进行加权;S5,测量并拟合待匀场的静磁场场图;S6,将射频场空间分布针对待匀场的静磁场场图进行加权;S7,计算匀场线圈的电流改变量;S8,通过剩磁场空间分布谱学特性判断是否需要迭代。本发明通过直接测量探头的实际射频场空间分布,加权于梯度匀场的静磁场场图和匀场线圈场图拟合计算匀场电流,通过剩磁场空间分布的谱学特性建立虚拟谱图并评价线形指标,最终优化迭代直至收敛。
搜索关键词: 一种 基于 射频 空间 分布 加权 梯度 方法
【主权项】:
1.一种基于射频场空间分布加权的梯度匀场方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1,测量探头射频线圈中心的射频场空间分布;/nS2,根据选择的匀场线圈组合设定一维梯度匀场的脉冲序列并调制序列参数;/nS3,测量并拟合匀场线圈的场图;/nS4,将射频场空间分布针对匀场线圈的场图进行加权;/nS5,测量并拟合待匀场的静磁场场图;/nS6,将射频场空间分布针对待匀场的静磁场场图进行加权;/nS7,计算匀场线圈的电流改变量;/nS8,通过剩磁场空间分布谱学特性判断是否需要迭代。/n
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