[发明专利]一种回归测试用例的确定方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911059581.5 申请日: 2019-11-01
公开(公告)号: CN110633222B 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 周卉 申请(专利权)人: 中国银行股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 林哲生
地址: 100818 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种回归测试用例的确定方法及装置,通过构建测试分析全景图,将重点业务场景对应的测试用例、风险测试点对应的测试用例和第一轮测试中测试问题单对应的测试用例作为备选测试用例,保证测试范围被全面覆盖。在此基础上,通过设置备选测试用例的重点业务场景参数、第一轮问题影响参数和历史缺陷影响参数,并依据备选测试用例的重点业务场景参数、第一轮问题影响参数和历史缺陷影响参数,计算备选测试用例的标准值,筛选出标准值大于回归阈值的备选测试用例确定为回归测试用例,保证了回归测试用例的选择符合最少标准,提高了选择回归测试用例的效率和准确性,进一步提高了回归测试效率。
搜索关键词: 一种 回归 测试 确定 方法 装置
【主权项】:
1.一种回归测试用例的确定方法,其特征在于,包括:/n构建测试分析全景图,所述测试分析全景图为业务场景、功能、功能点、测试点和测试用例之间的树状关系图;/n在所述测试分析全景图中对重点业务场景进行标注,获取所述重点业务场景对应的备选测试用例;/n在所述测试分析全景图中对风险测试点进行标注,获取所述风险测试点对应的备选测试用例;/n依据所述测试分析全景图,获取第一轮测试中测试问题单对应的备选测试用例;/n为备选测试用例设置重点业务场景参数、第一轮问题影响参数和历史缺陷影响参数;/n依据备选测试用例的重点业务场景参数、第一轮问题影响参数和历史缺陷影响参数,计算备选测试用例的标准值;/n将标准值大于回归阈值的备选测试用例确定为回归测试用例。/n
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