[发明专利]一种Stokes-Mueller光谱成像系统和检测方法有效
申请号: | 201911064170.5 | 申请日: | 2019-11-04 |
公开(公告)号: | CN110763341B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 李艳秋;周国栋;李建慧;王嘉智 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01J3/447 | 分类号: | G01J3/447;G01J3/44;G01J3/02 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 田亚琪;刘芳 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种Stokes‑Mueller光谱成像系统,本发明在光源、光谱仪、探测器处增加了三组滤光片,使系统不仅能够实现Stokes‑Mueller光谱成像,还能够在不同配置下实现荧光成像、荧光光谱、拉曼光谱的采集,拓展了系统的功能;本发明对待测样品区域进行两次分割,再通过旋转波片法偏振检测技术和图形拼接技术,可以获得同时满足高空间分辨率和高光谱分辨率的Stokes‑Mueller偏振信息,还大幅度增加了系统的物方视场,有助于检测更大面积的样品,使系统的测量结果更加全面细致、信息丰富。 | ||
搜索关键词: | 一种 stokes mueller 光谱 成像 系统 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种Stokes-Mueller光谱成像系统,包括:/n光源、用于将来自光源的光束起偏为不同偏振态的偏振态产生器、用于将来自偏振态产生器的偏振光束照射到待测样品的聚光镜、用于承载待测样品的样品台、用于接收来自样品的成像光束的物镜、用于对经过物镜的成像光束进行检偏的偏振态分析器、用于对检偏后的光束进行分束的分束镜、用于对分束光束做光谱分析的光谱仪、用于对分束光束成像的探测器、用于控制以上器件并对来自光谱仪和探测器的数据做处理的计算机;/n其特征在于,/n所述偏振态产生器包括线偏振片P1以及在垂直于光轴的平面内绕光轴旋转的消色差波片R1;/n所述偏振态分析器包括在垂直于光轴的平面内绕光轴旋转的消色差波片R2以及线偏振片P2;/n所述光源产生的光束满足:光谱范围介于P1、P2、R1、R2的工作波长范围的交集之内,或波长与待测样品的荧光或拉曼的激发波长一致;/n所述系统还包括滤光片F2;所述滤光片F2能滤除的光束的波长与待测样品的荧光或拉曼的激发波长一致;/n所述系统还包括滤光片F3;所述滤光片F3能滤除的光束的波长与待测样品的荧光的激发波长一致;/n由分束镜所分的两束光,一束光通过滤光片F2后进入光谱仪,另一束光通过滤光片F3后进入探测器。/n
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