[发明专利]一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201911064430.9 申请日: 2019-11-04
公开(公告)号: CN110986830B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 陈森;陆卫国;王致强;刘爱敏;王海霞 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01C1/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 郑丽红
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法,解决现有三维姿态角测量系统复杂、体积大以及测量精度较低,不符合航天领域测量要求的问题。该装置包括双光谱光源、二维自准直仪、图像传感器电路板、五棱分光棱镜、折转棱镜和数据处理模块;双光谱光源发射红绿光谱光束,该光谱光束经二维自准直仪的同一狭缝出射后入射至五棱分光棱镜,五棱分光棱镜将双光谱光束分成两路,第一光路光束穿过五棱分光棱镜直接入射至被测立方镜前表面,第二光路光束通过折转棱镜折转入射至被测立方镜的侧表面,两路光束原路反射,二维自准直仪的图像传感器对返回的光束进行分时成像,图像传感器电路板对图像进行采集,并传输给数据处理模块。
搜索关键词: 一种 光谱 三维 姿态 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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