[发明专利]基于激光自混合光栅干涉的三维位移测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 201911064533.5 | 申请日： | 2019-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN110631484B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 郭冬梅;施立恒;汪弋平;夏巍;郝辉;蔡文魁 | 申请（专利权）人： | 南京师范大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210046 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于激光自混合光栅干涉的三维位移测量系统及测量方法，系统包括半导体激光传感头、平面反射镜、反射式二维平面光栅、数据采集卡和计算机，半导体激光传感头发出的激光入射到反射式二维光栅上，相应的衍射光沿原光路反馈回半导体激光传感头发生自混合干涉，自混合干涉信号被半导体激光器内置的光电探测器转化为电信号，输出至数据采集卡，经过计算机处理后得到待测目标的三维位移。本发明解决了传统光栅干涉仪在进行面外位移测量时量程受限的问题，同时相对传统光栅干涉仪更加紧凑，并保持了激光自混合干涉仪自准直的优点，可以实现结构简单、大量程、高分辨率三维实时位移测量系统和测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 激光 混合 光栅 干涉 三维 位移 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于激光自混合光栅干涉的三维位移测量系统，其特征在于：包括第一半导体激光传感头(1)、第二半导体激光传感头(2)、第三半导体激光传感头(3)、反射式二维平面光栅(4)、第一平面反射镜(5)、第二平面反射镜(6)、数据采集卡(7)和计算机(8)，第一半导体激光传感头(1)、第二半导体激光传感头(2)、第三半导体激光传感头(3)垂直于反射式二维平面光栅(4)，它们在反射式二维平面光栅(4)的投影呈等腰直角三角形，第一半导体激光传感头(1)的投影为顶点，第一平面反射镜(5)和第二平面反射镜(6)分别设置在第二半导体激光传感头(2)和第三半导体激光传感头(3)到反射式二维平面光栅(4)的垂线上，数据采集卡(7)的一端连接第一半导体激光传感头(1)、第二半导体激光传感头(2)和第三半导体激光传感头(3)，另一端连接计算机(8)。/n
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