[发明专利]基于InGaAs/InAlAs/InP雪崩光电探测器的结构优化方法在审
申请号: | 201911065409.0 | 申请日: | 2019-11-04 |
公开(公告)号: | CN111276555A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 王航;谭明;吴渊渊;黄欣萍;陆书龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所南昌研究院 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/107;G06F30/20 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王茹;王锋 |
地址: | 330000 江西省南昌市*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于InGaAs/InAlAs/InP雪崩光电探测器的结构优化方法,所述结构优化方法包括:根据雪崩探测器的实际结构和类型建立起相应仿真模型,并将所述雪崩探测器的实际性能与仿真模型的仿真实验结果进行拟合,之后依据拟合结果优化该雪崩探测器的倍增层掺杂浓度、电荷层掺杂浓度和电荷层厚度等,最终得到优化后的器件结构。本发明提供的方法能够通过模拟计算优化器件的外延结构,从而有效地控制雪崩光电二极管器件内部电场分布情况,进而实现对器件贯穿电压、击穿电压等特性的有效控制,从而提高器件性能并满足实际需求,具有广泛应用前景。 | ||
搜索关键词: | 基于 ingaas inalas inp 雪崩 光电 探测器 结构 优化 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的