[发明专利]一种测量4.6GHz低杂波平行磁场方向波数的系统有效

专利信息
申请号: 201911066069.3 申请日: 2019-11-04
公开(公告)号: CN110806510B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 李妙辉;王云飞;丁伯江;吴则革;王茂;刘亮;赵连敏 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明
地址: 230031 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种测量4.6GHz低杂波平行磁场方向波数的系统,以实现托卡马克等离子体中自由传播的高频微波的相位测量,进而分析获得低杂波平行磁场方向的波数。包括真空侧和大气侧两大部分。真空侧包括磁探针阵列、耐高温稳相同轴线和同轴Feedthrough。大气侧包括两级降频电路和高速数据采集模块。由固定距离的磁探针阵列耦合低杂波,经同轴Feedthrough传出,然后与两级差频电路混频后,将4.6GHz的高频微波降频至20MHz左右,送入采样率高达100MS/s的多通道同步采集模块,最后通过FFT数据处理便可获得每一道的相位信息。
搜索关键词: 一种 测量 4.6 ghz 低杂波 平行 磁场 方向 系统
【主权项】:
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