[发明专利]半导体结构在审

专利信息
申请号: 201911074567.2 申请日: 2019-11-06
公开(公告)号: CN110767784A 公开(公告)日: 2020-02-07
发明(设计)人: 方信乔;王信介;赖彦霖 申请(专利权)人: 錼创显示科技股份有限公司
主分类号: H01L33/12 分类号: H01L33/12
代理公司: 11205 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 罗英;臧建明
地址: 中国台湾新竹科学园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 本公开实施例提出一种半导体结构。半导体结构包含一基板。半导体结构也包含一第一缓冲层,第一缓冲层设置于基板上。半导体结构还包含一第二缓冲层,第二缓冲层设置于第一缓冲层上。半导体结构包含一组件层,组件层设置于第二缓冲层。第二缓冲层包含铝,且第二缓冲层的铝含量在远离基板的方向上逐渐增加。
搜索关键词: 缓冲层 半导体结构 基板 组件层 逐渐增加
【主权项】:
1.一种半导体结构,其特征在于,包括:/n基板;/n第一缓冲层,设置于所述基板上;/n第二缓冲层,设置于所述第一缓冲层上;以及/n组件层,设置于所述第二缓冲层上;/n其中所述第二缓冲层包含铝,且所述第二缓冲层的铝含量在远离所述基板的方向上逐渐增加。/n
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