[发明专利]一种微颗粒强度测量仪及测量方法有效
| 申请号： | 201911075414.X | 申请日： | 2019-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN110967248B | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 张志兵;张平;李华峰 | 申请（专利权）人： | 英国微力测量有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N3/24;G01N3/06;G01N3/04;G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473 | 代理人： | 胡天人 |
| 地址： | 英国伯明翰市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种微颗粒强度测量仪及测量方法，涉及显微测量领域，所述微颗粒强度测量仪包括多通道视频显微模块、样品载台模块、位移运动驱动模块、微力信号采集模块以及仪器操作控制模块；本发明还提供一种微粒强度测量方法，定义样品载片的扫描范围及样品测量尺寸范围，将扫描范围分为多个场域；移动样品载片将多个场域依次移入显微视场中，进行样品颗粒识别及筛选；通过移动夹持臂或移动支架向样品施加外力并记录样品形变过程及力信号，从而得到所述样品强度的数据，并根据样品的力学模型来分析获得材料的本征力学数据。本发明设计的微颗粒强度测量仪及测量方法有效的提升微尺度材料的研发效率，大大的缩短了工业产品的开发过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 强度 测量仪 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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