[发明专利]一种带有slice空洞的进位链构造及测试方法在审
| 申请号： | 201911081079.4 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN111104101A | 公开（公告）日： | 2020-05-05 |
| 发明（设计）人： | 项宗杰;王立恒;楼建设;孔泽斌 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号： | G06F8/30 | 分类号： | G06F8/30 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种存在slice空洞的FPGA进位链的构造方法，其特征在于，包括步骤：判断当前位置为slice或空洞；判断前一个位置为slice或空洞；根据当前位置与前一个位置的情况，执行新建进位链或级联或者既不新建也不级联；根据上述方法遍历所有位置；以及一种采用上述方法构造的进位链的测试方法，包括：进位链贯穿多个slice，每个slice各包含一个片段，每个片段包含多个基元，其中，步骤1，判断基元的正确性；步骤2，判断相邻的每两个基元的连接关系的正确性；其中步骤1和步骤2采用测试用例进行正确性的判断。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 带有 slice 空洞 进位 构造 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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