[发明专利]一种基于结构光的三维测量方法及系统有效
| 申请号： | 201911082162.3 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN110631507B | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 杨凯;梁斌;高春良;谢利明;白子健;文鑫;王峰 | 申请（专利权）人： | 成都盛锴科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 成都市集智汇华知识产权代理事务所(普通合伙) 51237 | 代理人： | 罗艳 |
| 地址： | 610073 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及三维测量方法技术领域，实施例具体公开一种基于相移光栅条纹结构光进行三维测量的方法及系统。通过光源单元向被测物体投射一组有固定相移的光栅条纹图像，两个成像单元分别从设定的角度拍摄这组包含相移光栅的被测物体图像，经过计算相位可以得到物体的绝对深度，从而实现三维测量，解决了被测物体存在空间不连续和遮挡等情况时的相位截断无法进行三维测量的问题，具有更广泛的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 结构 三维 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于结构光的三维测量方法，其特征在于，应用于三维测量系统，所述三维测量系统包括光源单元、第一成像单元、第二成像单元和控制单元，所述光源单元、第一成像单元和第二成像单元均由控制单元控制；所述第一成像单元的光心与所述光源单元的光心完全重合或者在竖直方向上重合，所述第二成像单元放置在所述光源单元的一侧，且所述第二成像单元与所述光源单元的光心出轴连线的夹角大于等于20°且小于等于40°，所述测量方法包括：/nS11：光源单元向被测物体投射一组具有固定相移量的光栅条纹图像，同时第一成像单元采集投射光栅条纹图像后的被测物体图像，获得第一组被测物体图像，同时第二成像单元采集投射光栅条纹图像后的被测物体图像，获得第二组被测物体图像；/nS12：控制单元根据第一组被测物体图像、第二组被测物体图像和预设的第一成像单元视角的周期标记线计算被测物体的真实高度信息；/nS13：控制单元根据被测物体的真实高度信息获得被测物体的三维测量结果。/n
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