[发明专利]测试方法、平台、电子设备和计算机存储介质在审
| 申请号： | 201911084270.4 | 申请日： | 2019-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN110968504A | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 金伟光 | 申请（专利权）人： | 京东数字科技控股有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/22;H04L12/26 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 周丽莎;张颖玲 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提出了一种测试方法、平台、电子设备和计算机存储介质，该方法包括：配置测试参数并确定N个测试模块的执行顺序，所述测试参数包括：所述测试平台与所述N个测试模块中每个测试模块之间的通信参数，N为大于1的整数，所述N个测试模块用于执行不同类型的测试；按照所述执行顺序，并基于所述通信参数依次向所述N个测试模块发送对应的测试执行指令。本发明实施例中，可以按照预先配置的N个测试模块的执行顺序，依次向N个测试模块发送对应的自动化测试执行指令，当N个测试模块用于执行不同类型的自动化测试时，可以在进行一次自动化测试时，统一实现不同类型的自动化测试，提高了自动化测试的准确性和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 平台 电子设备 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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