[发明专利]一种硅表面制作密度可调的锥状陷光结构的方法及制得的黑硅有效
申请号: | 201911089405.6 | 申请日: | 2019-11-08 |
公开(公告)号: | CN110783417B | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 徐丽华;褚卫国;陈佩佩;闫兰琴 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | H01L31/0236 | 分类号: | H01L31/0236;H01L33/22;C30B33/12 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明涉及一种硅表面制作密度可调的锥状陷光结构的方法及制得的黑硅,所述方法包括:1)采用等离子体处理方法,对硅片进行表面处理,在硅片表面形成点状非连续SiO |
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搜索关键词: | 一种 表面 制作 密度 可调 锥状陷光 结构 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅表面制作密度可调的锥状陷光结构的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:/n(1)采用等离子体处理方法,对硅片进行表面处理;/n(2)然后进行等离子体刻蚀,即在硅表面制得锥状陷光结构。/n
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