[发明专利]一种高安全校准和筛选测试的方法和电路有效
| 申请号： | 201911092555.2 | 申请日： | 2019-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN110995233B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 刘明磊 | 申请（专利权）人： | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102209 北京市昌平区北七家镇未*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 由于工艺偏差，模拟信号需要进行校准和筛选，通用的校准方式将每一个模拟信号引出到测试端口，测试机通过直接探测信号信息，调整芯片内部电路进行校准。这种方式存在几个缺点，第一是被测试信号需要引到端口，容易在端口处被探测，存在安全隐患；第二是多组模拟信号进行校准需要多个测试端口，浪费面积；第三是由于测试机测试电压精度比提供电压差，会造成精度不高；第四是实现自动校准比较困难。本发明通过内部比较的测试方法，测试信号不需要引出到PAD实现高安全、只需要一个或者两个测试端口实现小面积、测试机只需要提供电源不需要读电压实现高精度、容易与逻辑配合实现自动校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高安 校准 筛选 测试 方法 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
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