[发明专利]一种长狭缝光谱仪光学系统在审

专利信息
申请号: 201911093496.0 申请日: 2019-11-11
公开(公告)号: CN110879104A 公开(公告)日: 2020-03-13
发明(设计)人: 袁立银;王跃明;谢佳楠;何志平 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02;G01J3/18
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种长狭缝光谱仪光学系统,由视场光栏、折反镜组、偏轴透镜、光栅和滤光片组成,其中折反镜组有一片正透镜和一片内反射负透镜组成。光学系统为折反射式,来自物方的光线从视场光栏出发,经折反镜组内反射后再经折反镜组透射至偏轴透镜达到光栅,经其衍射后再经过偏轴透镜至折反镜组内反射及透射后出射至滤光片,到达像面。折反镜组被光线四次经过,有利于压缩系统体积,实现基于平面光栅分光的长狭缝紧凑结构和低畸变设计,偏轴透镜有利于进一步校正光谱畸变。本发明的优点是:成本相对曲面光栅较低,能适应长狭缝设计需求,像差校正能力强,畸变低,结构紧凑。
搜索关键词: 一种 狭缝 光谱仪 光学系统
【主权项】:
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