[发明专利]一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置在审
| 申请号： | 201911093500.3 | 申请日： | 2019-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN110793756A | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 刘强;王欣;黄庚华;何志平;舒嵘 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B27/30 |
| 代理公司： | 31311 上海沪慧律师事务所 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置。装置包括光纤光源，准直透镜，分光棱镜，偏振分光棱镜，一号平行平板，四分之一波片，角锥棱镜，二号平行平板，汇聚透镜，探测器；在光校望远镜系统过程中，采用偏振分光棱镜、四分之一波片和角锥棱镜产生两束共线、方向相反的光束，实现被光校的望远镜系统光轴与辅助标准平面镜法线的高精度配准。本发明所述的装置是一种相对测试，攻克了传统绝对测试光轴中人为判读误差与测试环境等带来的测试精度问题。另外，参考光轴与测试光轴共光路，不受测试过程中的振动影响，大大提高测试精度与光校效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光轴 光校 测试 偏振分光棱镜 四分之一波片 望远镜系统 角锥棱镜 平行平板 反射望远镜 平面镜法线 测试过程 测试环境 方向相反 分光棱镜 辅助标准 光纤光源 汇聚透镜 精度问题 判读误差 偏振分光 振动影响 准直透镜 共光路 探测器 共线 配准 参考 监测 | ||
【主权项】：
1.一种基于偏振分光的反射望远镜光轴监测的光校装置，包括光纤光源(1)，准直透镜(2)，分光棱镜(3)，偏振分光棱镜(4)，一号平行平板(5)，四分之一波片(6)，角锥棱镜(7)，二号平行平板(8)，汇聚透镜(9)，探测器(10)，其特征在于：/n所述的光纤光源(1)的光纤出射点位于准直透镜(2)的焦面上，由准直透镜(2)准直的平行光经过分光棱镜(3)到达偏振分光棱镜(4)，被分为线偏振P光和S光两束测试光：/n第一束测试光是透射偏振分光棱镜(4)产生的线偏振P光，经过四分之一波片(6)，变为圆偏振光，再经过角锥棱镜(7)后原路返回，第二次经过四分之一波片(6)，变为线偏振S光，到达偏振分光棱镜(4)中45°的分光面，线偏振S光呈与原光轴90°夹角方向出射，透射经过二号平行平板(8),到达光校望远镜系统的光轴基准棱镜上，整体调节本光校装置的方位，使得光束的方向与被光校望远镜系统的基准棱镜法线共线，原路返回，经过偏振分光棱镜(4)反射，第三次经过四分之一波片(6)，变为圆偏振光，再经过角锥棱镜(7)后原路返回，第四次经过四分之一波片(6)，变为线偏振P光，透射经过偏振分光棱镜(4)，经过分光棱镜(3)反射到达汇聚透镜(9)，成像到探测器(10)上，记录探测器上光斑质心(x
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