[发明专利]多载流子体系的测试及拟合方法有效

专利信息
申请号: 201911094739.2 申请日: 2019-11-11
公开(公告)号: CN110927458B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 胡尚正;折伟林;吴卿;陈慧卿;刘铭;田震;杨海燕;刘兴新;周立庆 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十一研究所
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01N27/00
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 张然
地址: 100015*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种多载流子体系的测试及拟合方法,包括:将样品置于低温、变磁场中,测量样品的横向电导率σxx和纵向电导率σxy;对测量的σxx和σxy进行拟合运算,计算样品中各类载流子的迁移率;基于计算的样品中各类载流子的迁移率,确定样品中各类载流子的浓度ni。采用本发明,可以获得相对准确的材料电学参数信息,能够提升探测器结构的设计能力,并且通过指导工艺,优化材料中各导电类型的载流子浓度及迁移率,降低器件的暗电流,提升探测器组件的性能。
搜索关键词: 载流子 体系 测试 拟合 方法
【主权项】:
暂无信息
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