[发明专利]一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备及测量方法在审
| 申请号： | 201911096402.5 | 申请日： | 2019-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN110986899A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 王正华;陈刚;陈登海;黄剑;张仲寅;刘明芳 | 申请（专利权）人： | 上海航天设备制造总厂有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 马全亮 |
| 地址： | 200245 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种封闭舱体被遮挡电子设备的精度测量设备及测量方法，精测转接支架和精测立方镜，精测转接支架呈L形片状结构，L形精测转接支架的短边部分固定在被遮挡电子设备的支架上，L形精测转接支架的长边部分顶部粘接有精测立方镜，该精测立方镜位置高于舱体前端框使得测量光路不受影响，在被遮挡电子设备上安装基准镜，通过测量将被遮挡电子设备基准镜数据转移至精测转接支架上的精测立方镜上。本发明通过设计专用精测转接支架和安装于电子设备上，将电子设备的立方镜坐标数据通过电子经纬仪的测量并转移转移至转接支架上，满足被遮单电子设备的精度测量及安装精度的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 封闭 舱体被 遮挡 电子设备 精度 测量 设备 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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