[发明专利]一种基于超像素的偏光片外观缺陷分割方法有效

专利信息
申请号: 201911099247.2 申请日: 2019-11-12
公开(公告)号: CN110827309B 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 赵文晶;王银;谢新林;张栋;谢刚 申请(专利权)人: 太原理工大学;太原科技大学
主分类号: G06T7/136 分类号: G06T7/136;G06T7/00;G06T5/00
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 代理人: 朱源
地址: 030024 山西省*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 发明属于机器视觉检测技术领域,具体涉及一种基于超像素的偏光片外观缺陷分割方法,解决了背景技术中所述的技术问题。采用如下技术方案:1.载入待分割的偏光片缺陷图像;2.进行灰度化;3.对偏光片缺陷图像进行超像素分割;4.提取超像素的灰度特征;5.使用OSTU算法计算灰度阈值;6.根据最优分割阈值,对超像素进行合并,得到最终的分割结果;本发明以超像素作为后续图像处理的基本单位的分割方法,减少了计算量,降低了算法的时间复杂度,同时对偏光片缺陷图像中的背景纹理和噪声起到了抑制作用,减少了像素的冗余信息,提高了处理效率和抗噪性能,该方法能够在边界模糊的含噪偏光片缺陷图像中有理想的分割效果。
搜索关键词: 一种 基于 像素 偏光 外观 缺陷 分割 方法
【主权项】:
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