[发明专利]一种部件物相成分深度分布无损测量方法在审
| 申请号： | 201911101175.0 | 申请日： | 2019-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN110763712A | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 张昌盛;谢雷;夏元华;陈喜平;王虹;李建;孙光爱 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 51210 中国工程物理研究院专利中心 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621999 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明的部件物相成分深度分布无损测量方法，使用中子源和探测器在样品同侧布置形成的反射式衍射几何布局，分别通过四维台和探测器进行测点位置选取和数据信号采集，从而实现部件内部不同位置物相成分分布的无损测量。根据样品规格和重量等实际情况选取适宜的四维台及安装方式进行测点尺寸限定，通过探测器收集来样品内部不同测点的数据信号并分析得到对应的物相和成分信息。本发明的部件物相成分深度分布无损测量方法，适用于部件级样品内部不同位置物相成分分布的无损测量。 | ||
| 搜索关键词： | 无损测量 探测器 测点 四维 数据信号采集 反射式衍射 安装方式 测点位置 成分信息 尺寸限定 几何布局 数据信号 同侧布置 中子源 分析 | ||
【主权项】：
1.一种部件物相成分深度分布无损测量方法，其特征在于，所述的测量方法包括以下步骤：/na. 测量布局/n将四维台（2）安装在样品台（1）或支撑架（14）上，中子源（4）和探测器（11）布置于样品（3）的同侧，形成反射式衍射几何布局；/nb. 样品安装/n将样品（3）安装固定在四维台（2）上，将四维台（2）的三向平移走位、自转走位均设定为归零状态；/nc. 测点选取/n探测器（11）内侧布置径向准直器（9），采用径向准直器（9）和中子源（4）前端的狭缝（5）对测点（7）的尺寸进行限定，通过四维台（2）的三向平移和自转操作对测点（7）的位置进行选取；/nd. 实验测量/n开启中子源（4），通过探测器（11）收集来自选定测点（7）的数据信号，并传送至计算机（13）进行存储；/ne. 数据处理/n重复步骤c和步骤d测得样品（3）内部不同位置测点（7）的数据信号，并进行存储和初步处理；/nf. 测量完成/n关闭中子源（4），将样品（3）从四维台（2）上卸载，并清理测量现场，对测量数据进行分析得到不同位置测点（7）对应的物相和成分信息。/n
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