[发明专利]一种高密度的相变存储器三维集成电路结构的制备方法有效

专利信息
申请号: 201911102925.6 申请日: 2019-11-12
公开(公告)号: CN111029362B 公开(公告)日: 2023-07-18
发明(设计)人: 童浩;林琪;王伦;缪向水 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H10B63/10 分类号: H10B63/10
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 宋敏
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种高密度的相变存储器三维集成电路结构的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、制备选通管单元;S2、在选通管单元的顶电极上方制备中间电极,且电极方向相交;S3、在中间电极的上方制备n个相变存储单元,其n为整数,n≥2,n个相变存储单元并列排布,各自的底电极均形成于中间电极上方,并与中间电极的电极方向相交,将选通管单元与n个相变存储单元串联起来。本方法在阵列集成过程中可以与存储单元垂直多层堆叠,不需要占用额外的面积,大大增加空间利用面积,从而能够极大地增加存储密度;同时,两端存储器与选通管集成的结构具有三维方向上的堆叠能力,可以进一步提高存储密度。
搜索关键词: 一种 高密度 相变 存储器 三维集成电路 结构 制备 方法
【主权项】:
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