[发明专利]一种片状高分子聚合物的太赫兹介电特性测试装置及方法有效

专利信息
申请号: 201911106318.7 申请日: 2019-11-13
公开(公告)号: CN110824257B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 常天英;张献生;崔洪亮 申请(专利权)人: 山东省科学院自动化研究所
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 李琳
地址: 250014 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本公开提供了一种片状高分子聚合物的太赫兹介电特性测试装置及方法,包括夹持机构、位置移动机构、第一支撑件和激光测距仪;所述夹持机构包括用于将片状高分子聚合物夹紧固定的第一板件和第二板件,所述夹持机构的两侧分别设有与第一通孔位置相对的第一透镜和与第二通孔位置相对的第二透镜,太赫兹信号分别通过第一透镜和第二透镜平行传输到第一通孔位置的片状高分子聚合物上;所述透镜的侧边上固定有激光测距仪,所述激光测距仪的发射面与透镜面共面,所述激光测距仪用于夹持机构的位置调整和确定片状高分子聚合物的厚度;本公开操作简单,可对不同大小和厚度的片状高分子聚合物进行测试。
搜索关键词: 一种 片状 高分子 聚合物 赫兹 特性 测试 装置 方法
【主权项】:
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