[发明专利]一种氢硼聚变靶膜及其制备方法与应用有效

专利信息
申请号: 201911110110.2 申请日: 2019-11-13
公开(公告)号: CN112795921B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 赵冠超;代玲玲;魏彦存;耿金峰;聂革 申请(专利权)人: 新奥科技发展有限公司
主分类号: C23C28/00 分类号: C23C28/00;G21B1/19
代理公司: 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 代理人: 王璐
地址: 065001 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及膜材料制备技术,具体公开了一种氢硼聚变靶膜及其制备方法与应用,所述制备方法具体为:先于基底上制备一层300nm~1000nm厚、粗糙度在1nm以内的二氧化硅薄膜,再于该二氧化硅薄膜上制备一层30nm~50nm厚、粗糙度在1nm以内的金膜,而后在该金膜上采用高温工艺制备纳米级超薄硼膜,最后经脱膜处理溶解所述二氧化硅薄膜,获得金膜和硼膜的结合物,即得所述氢硼聚变靶膜。采用本发明所述制备方法制备的靶膜均匀性、平整度、致密度和环境稳定性优异,利于削弱衬底和硼膜本身对信号分析的影响;且由于金膜衬底的存在,使得在其上采用高温工艺制备的硼膜更薄、强度更高,能够用于在衬底背面检测信号的聚变反应中。
搜索关键词: 一种 聚变 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
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